DFT笔记116

12.3.1.3 Pattern Generation

提到用了两种模型：maximum aggressor (MA) fault model和multiple transition (MT) model，后者是前者的扩展。

文中还提到为了加速PSN的分析和测试生成的进展，有很多文献提出了不同的方法。

12.3.1.4 Sensing and Readout

因为IL是一个与波形相关的指标，它需要在IL发生的时刻立即捕获到，同时也需要价格合理的sensors/readout电路，有很多文献也提出了不同的方法，看引用的文献，按照时间或者类型进行了区分。

12.3.2 Parametric Defects, Process Variations, and Yield

广义上来讲，缺陷可能是：

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